年度 2013
全部作者 H. D. Trinh, Y. C. Lin, E. Y. Chang, C. T. Lee, S.Y. Wang, H. Q. Nguyen, Y. S. Chiu, Q. H. Luc, H.C. Chang, C. H. Lin, S. Jang, and C. H. Diaz
論文名稱 Electrical Characteristics of Al2O3/InSb MOSCAPs and the Effect of Postdeposition Annealing Temperature
期刊名稱 IEEE Trans. Electron Devices, vol. 60, no. 5,pp. 1555 – 1559,May 2013
語言 中文